节曲面反正切轨迹发生器（原标题：小米取得电子设备老化测试装置专利，能够解决老化测试过程采用离线方式和人工插拔而导致的费时费力的技术问题）

　　金融界2023年11月23日消息，据国家知识产权局公告，北京小米移动软件有限公司取得一项名为“电子设备老化测试装置“，授权公告号CN220064181U，申请日期为2023年6月。

　　专利摘要显示，本公开涉及一种电子设备老化测试装置，包括：底座，底座上设置有沿第一方向交替排布的充电位置和放电位置，充电位置设置有用于对电子设备进行有线充电和无线充电的第一充电结构，以及载具，用于承载电子设备，载具可沿第一方向移动地连接在底座上，以到达充电位置和放电位置，载具上设置有能够在充电位置与第一充电结构配合的第二充电结构。通过上述技术方案，本公开所提供的电子设备老化测试装置能够解决老化测试过程采用离线方式和人工插拔而导致的费时费力的技术问题。

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